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  • BSD-660活性碳孔結(jié)構(gòu)分布分析儀
    BSD-660活性碳孔結(jié)構(gòu)分布分析儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):BSD-660

    瀏覽量:2288

    活性碳孔結(jié)構(gòu)分布分析儀 是在液氮溫度下(77.3K)向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體(N2)通過(guò)氣體狀態(tài)方程PV=nRT,得到分壓點(diǎn)的吸附量;再通過(guò)BET或Langmuir等理論公式計(jì)算可得到樣品的比表面積,逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力,得到吸脫附等溫線;再通過(guò)吸附脫附等溫線的數(shù)據(jù)計(jì)算得到樣品的孔徑大小,孔體積,孔徑分布等信息。
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  • BSD-PS比表面積及孔容孔徑測(cè)試儀
    BSD-PS比表面積及孔容孔徑測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):BSD-PS

    瀏覽量:3964

    比表面積及孔容孔徑測(cè)試儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS沸石孔徑測(cè)試儀
    BSD-PS沸石孔徑測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):BSD-PS

    瀏覽量:2218

    沸石孔徑測(cè)試儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS氧化金屬孔徑測(cè)試儀
    BSD-PS氧化金屬孔徑測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):BSD-PS

    瀏覽量:2167

    氧化金屬孔徑測(cè)試儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PM納米碳酸鈣孔徑測(cè)試儀
    BSD-PM納米碳酸鈣孔徑測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):BSD-PM

    瀏覽量:2228

    納米碳酸鈣孔徑測(cè)試儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PM納米碳酸鈣孔徑測(cè)定儀
    BSD-PM納米碳酸鈣孔徑測(cè)定儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):BSD-PM

    瀏覽量:2237

    納米碳酸鈣孔徑測(cè)定儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PM氧化亞鐵孔徑測(cè)定儀
    BSD-PM氧化亞鐵孔徑測(cè)定儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):BSD-PM

    瀏覽量:2327

    氧化亞鐵孔徑測(cè)定儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PM硅藻土孔徑測(cè)定儀
    BSD-PM硅藻土孔徑測(cè)定儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):BSD-PM

    瀏覽量:2001

    硅藻土孔徑測(cè)定儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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